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  标准概要

硅单晶切割片和研磨片

Monocrystalline silicon as cut wafers and lapped wafers
国家标准《硅单晶切割片和研磨片》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 有研半导体材料有限公司 、浙江海纳半导体有限公司 、上海合晶硅材料有限公司 、浙江金瑞泓科技股份有限公司 、天津市环欧半导体材料技术有限公司 、浙江省硅材料质量检验中心 。 主要起草人 孙燕 、卢立延 、楼春兰 、徐新华 、张海英 、张雪囡 、潘金平 、刘卓 。 GB/T 12965-2005 (全部代替) GB/T 12965-2018 现行
  基础信息
标准号 GB/T 12965-2018
发布日期 2018-09-17
实施日期 2019-06-01
全部代替标准 GB/T 12965-2005
标准号 GB/T 12965-2018
发布日期 2018-09-17
实施日期 2019-06-01
全部代替标准 GB/T 12965-2005
  起草单位
  有研半导体材料有限公司
  上海合晶硅材料有限公司
  天津市环欧半导体材料技术有限公司
  浙江海纳半导体有限公司
  浙江金瑞泓科技股份有限公司
  浙江省硅材料质量检验中心
  起草人
  孙燕
  卢立延
  张海英
  张雪囡
  楼春兰
  徐新华
  潘金平
  刘卓
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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