标准概要

半导体器件集成电路第21-1部分：膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范（采用鉴定批准程序）

Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 21-1：Blank detail specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits on the basis of the qualification approval procedures

国家标准《半导体器件集成电路第21-1部分：膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范（采用鉴定批准程序）》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位中国电子科技集团公司第四十三研究所、中国电子技术标准化研究院。主要起草人冯玲玲、陈裕焜、雷剑、王琪、王婷婷、管松林。 GB/T 13062-1991 （全部代替） GB/T 13062-2018 现行本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60748-21-1:1997。采标中文名称:半导体器件集成电路第21-1部分：膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)。

基础信息

标准号 GB/T 13062-2018

发布日期 2018-12-28

实施日期 2019-07-01

全部代替标准 GB/T 13062-1991

标准号 GB/T 13062-2018

发布日期 2018-12-28

实施日期 2019-07-01

全部代替标准 GB/T 13062-1991

起草单位

中国电子科技集团公司第四十三研究所

中国电子技术标准化研究院

起草人

冯玲玲

陈裕焜

王婷婷

管松林

雷剑

王琪

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申明

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