标准概要

太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法

Test method for determination of crystal defect density in PV silicon ingot and wafer

国家标准《太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。主要起草单位英利集团有限公司、中国电子技术标准化研究院、江西赛维LDK太阳能高科技有限公司、泰州中来光电科技有限公司、晋能清洁能源科技有限公司、镇江仁德新能源科技有限公司、天津英利新能源有限公司。主要起草人李锋、李英叶、段青春、张伟、吴翠姑、冯亚彬、裴会川、程小娟、唐骏。 GB/T 37051-2018 现行

基础信息

标准号 GB/T 37051-2018

发布日期 2018-12-28

实施日期 2019-04-01

标准号 GB/T 37051-2018

发布日期 2018-12-28

实施日期 2019-04-01

起草单位

英利集团有限公司

江西赛维LDK太阳能高科技有限公司

晋能清洁能源科技有限公司

天津英利新能源有限公司

中国电子技术标准化研究院

泰州中来光电科技有限公司

镇江仁德新能源科技有限公司

起草人

李锋

李英叶

吴翠姑

冯亚彬

唐骏

段青春

张伟

裴会川

程小娟

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申明

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