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  标准概要

太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法

Test method for determination of crystal defect density in PV silicon ingot and wafer
国家标准《太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 英利集团有限公司 、中国电子技术标准化研究院 、江西赛维LDK太阳能高科技有限公司 、泰州中来光电科技有限公司 、晋能清洁能源科技有限公司 、镇江仁德新能源科技有限公司 、天津英利新能源有限公司 。 主要起草人 李锋 、李英叶 、段青春 、张伟 、吴翠姑 、冯亚彬 、裴会川 、程小娟 、唐骏 。 GB/T 37051-2018 现行
  基础信息
标准号 GB/T 37051-2018
发布日期 2018-12-28
实施日期 2019-04-01
标准号 GB/T 37051-2018
发布日期 2018-12-28
实施日期 2019-04-01
  起草单位
  英利集团有限公司
  江西赛维LDK太阳能高科技有限公司
  晋能清洁能源科技有限公司
  天津英利新能源有限公司
  中国电子技术标准化研究院
  泰州中来光电科技有限公司
  镇江仁德新能源科技有限公司
  起草人
  李锋
  李英叶
  吴翠姑
  冯亚彬
  唐骏
  段青春
  张伟
  裴会川
  程小娟
  推荐标准
  申明
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