集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法

国家标准《集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法》 由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。 主要起草单位 中国电子技术标准化研究院 、中国汽车工程研究院股份有限公司 、安徽中认倍佳科技有限公司 、厦门海诺达科学仪器有限公司 、深圳市北测标准技术服务有限公司 、北京智芯微电子科技有限公司 、天津先进技术研究院 、工业和信息化部电子第五研究所 、中国家用电器研究院 、重庆邮电大学 、北京星河亿海科技有限公司 、浙江诺益科技有限公司 、中国信息通信研究院 、重庆仕益产品质量检测有限责任公司 、北京邮电大学 、东莞职业技术学院 。 主要起草人 付君 、崔强 、黄雪梅 、乔彦彬 、吴建飞 、方文啸 、朱赛 、亓新 、李旸 、梁吉明 、谢玉章 、张红升 、熊伟杰 、张艳艳 、周昕 、郑益民 、王雪 、熊璞 、张金玲 、麦强 、康志能 、陈梅双 。 GB/T 42968.2-2024 现行 本标准等同采用IEC国际标准：IEC 62132-2:2010。 采标中文名称:集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法。