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  标准概要

砷化镓单晶位错密度的测试方法

Test method for dislocation density of monocrystal gallium arsenide
国家标准《砷化镓单晶位错密度的测试方法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 有研光电新材料有限责任公司 、云南临沧鑫圆锗业股份有限公司 、国合通用测试评价认证股份公司 、中国电子科技集团第四十六研究所 、广东先导稀材股份有限公司 、雅波拓(福建)新材料有限公司 。 主要起草人 赵敬平 、林泉 、于洪国 、惠峰 、刘淑凤 、姚康 、许所成 、许兴 、马英俊 、王彤涵 、赵素晓 、韦圣林 、陈晶晶 、付萍 。 GB/T 8760-2006 (全部代替) GB/T 8760-2020 现行
  基础信息
标准号 GB/T 8760-2020
发布日期 2020-09-29
实施日期 2021-08-01
全部代替标准 GB/T 8760-2006
标准号 GB/T 8760-2020
发布日期 2020-09-29
实施日期 2021-08-01
全部代替标准 GB/T 8760-2006
  起草单位
  有研光电新材料有限责任公司
  国合通用测试评价认证股份公司
  广东先导稀材股份有限公司
  云南临沧鑫圆锗业股份有限公司
  中国电子科技集团第四十六研究所
  雅波拓(福建)新材料有限公司
  起草人
  赵敬平
  林泉
  刘淑凤
  姚康
  马英俊
  王彤涵
  陈晶晶
  付萍
  于洪国
  惠峰
  许所成
  许兴
  赵素晓
  韦圣林
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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